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                SERVICE
        • STS8200B測試儀

          STS8200B測試儀

          晶圓測試

          0.00

          0.00

        • 3380P測試儀

          3380P測試儀

          晶圓測試

          0.00

          0.00

        • TR-6850

          TR-6850

          晶圓測試

          0.00

          0.00

        • TR-6836

          TR-6836

          晶圓測試

          0.00

          0.00

        • P12XL

          P12XL

          晶圓測試

          0.00

          0.00

        • UF200SA

          UF200SA

          晶圓測試

          0.00

          0.00

        設(shè)備介紹
        3380P測試儀
        l最大數(shù)據(jù)傳輸率:100MHz
        l最大I/OPIN512通道
        l同測數(shù):可最大512DUT并行測試
        l測量向量深度:32M/64M/128M
        STS8200B測試儀
        l最大數(shù)據(jù)傳輸率5MHz
        l數(shù)?;旌蠝y試儀,模擬電壓最大可支持-1000V~+1000V
        l可最大16/32DUT并行測試
        l可擴展性高,覆蓋面廣,可提供模擬,線性,電源管理類,音頻,模擬開關(guān)
        TR6850測試儀
        l最大數(shù)據(jù)傳輸率33MHz,分辨率3.3ns
        l數(shù)?;旌蠝y試儀,模擬電壓最大可支持-45V~+100V
        l最大I/OPIN256通道
        l每個通道可以單獨設(shè)置輸入電平(VIH/VIL
        l每個通道可以單獨設(shè)置比較電平(VOH/VOL)  
        l 每個通道均可單獨設(shè)置時鐘調(diào)制模式。
        l每個通道均可單獨設(shè)置TG
        l每個通道均可進行時間參數(shù)測量
        l可最大8DUT同時并行測試
        l測量向量深度最大8M
        TR6836測試儀
        l最大數(shù)據(jù)傳輸率33MHz,分辨率3.3ns
        l最大I/OPIN384通道
        l每個通道可以單獨設(shè)置輸入電平(VIH/VIL
        l每個通道可以單獨設(shè)置比較電平(VOH/VOL)  
        l 每個通道均可單獨設(shè)置時鐘調(diào)制模式。
        l每個通道均可單獨設(shè)置TG
        l每個通道均可進行時間參數(shù)測量
        l可最大8DUT同時并行測試
        l測量向量深度最大8M
        P12XL針臺
        lTEL產(chǎn)
        l測試8”~12”晶圓
        l精度高(300mm內(nèi)精確度為±2um)

        l自動化程度高,配備先進的CCD圖形掃描技術(shù),

         機器自動上下片

        l穩(wěn)定性好

        UF200SA探針臺
        l日本TSK生產(chǎn)
        l測試5”~8”晶圓
        l精度高(200mm內(nèi)精確度為±2um

        l自動化程度高,配備先進的CCD圖形掃描技術(shù),機器自動上下片

        l穩(wěn)定性好