日韩无码专区,无码AV观看,国产91在线 | 亚洲,囯产無碼亂伦播放

<b id="9x3dh"><p id="9x3dh"><thead id="9x3dh"></thead></p></b><var id="9x3dh"><track id="9x3dh"></track></var>
    <b id="9x3dh"></b>
  1.  <source id="9x3dh"></source>

    3.  
    <source id="9x3dh"><menu id="9x3dh"></menu></source>
      1. 


								

	


        

        

        
	    	
         
        

     
                
        
    
        
    
        		
    
        
			
        
								
        

        


        
 
    


  

        

        
 

                                        
                                
			
        

        




        您好~歡迎光臨珠海市中芯集成電路有限公司網站~
        



        


        

        


         
        

 
        


        


        

        
  
 

         
        

        
    
        

         
	


        

        珠海市中芯集成電路有限公司
        


        咨詢熱線：
        0756-8632035
        


        CHNCHIP ENGINEERING CO.,LTD.
        


        




        

        




        
    

        




        

        CUSTOMER      
        


        以客戶為中心  
        


        quality
        


        以質量求生存 
        


        SERVICE
        


         以服務求發(fā)展
        


        

        

        


         
        


        


        



               新聞動態(tài)
                   NEWS
        


            您的位置：
        


        

 

	
        測試的一般步驟介紹
        

	
	
        
		
        
	來源:與非網（節(jié)選）
	|
	作者:chnchip
	|
	發(fā)布時間: 2021-08-02
	|
	2552 次瀏覽


	|
	 分享到: 
	 
        
		
	
        
			
        
	
        
		
        
		
        
	
	
        

		
        
			
        測試的主要目標是檢驗半導體芯片的質量是否達到一定標準，從而消除不良產品、并提高芯片的可靠性。另外，經測試有缺陷的產品不會進入封裝步驟，有助于節(jié)省成本和時間。電子管芯分選 (EDS) 就是一種針對晶圓的測試方法。
         
        EDS是一種檢驗晶圓狀態(tài)中各芯片的電氣特性并由此提升半導體良率的工藝。EDS可分為五步，具體如下 ：
         
         
        01電氣參數(shù)監(jiān)控 (EPM)
        EPM是半導體芯片測試的第一步。該步驟將對半導體集成電路需要用到的每個器件（包括晶體管、電容器和二極管）進行測試，確保其電氣參數(shù)達標。EPM的主要作用是提供測得的電氣特性數(shù)據，這些數(shù)據將被用于提高半導體制造工藝的效率和產品性能（并非檢測不良產品）。
         
        02晶圓老化測試
        半導體不良率來自兩個方面，即制造缺陷的比率（早期較高）和之后整個生命周期發(fā)生缺陷的比率。晶圓老化測試是指將晶圓置于一定的溫度和AC/DC電壓下進行測試，由此找出其中可能在早期發(fā)生缺陷的產品，也就是說通過發(fā)現(xiàn)潛在缺陷來提升最終產品的可靠性。
         
        03檢測
        老化測試完成后就需要用探針卡將半導體芯片連接到測試裝置，之后就可以對晶圓進行溫度、速度和運動測試以檢驗相關半導體功能。具體測試步驟的說明請見表格。
         
         
        04修補
        修補是最重要的測試步驟，因為某些不良芯片是可以修復的，只需替換掉其中存在問題的元件即可。
         
        05點墨
        未能通過電氣測試的芯片已經在之前幾個步驟中被分揀出來，但還需要加上標記才能區(qū)分它們。過去我們需要用特殊墨水標記有缺陷的芯片，保證它們用肉眼即可識別，如今則是由系統(tǒng)根據測試數(shù)據值自動進行分揀。



        源文地址：https://www.eefocus.com/component/501426
        版權聲明： 本站內容除原創(chuàng)文章之外，轉載內容只為傳遞更多信息，并不代表本網站贊同其觀點。轉載的所有的文章、圖片、音/視頻文件等資料的版權歸版權所有權人所有。本站采用的非本站原創(chuàng)文章及圖片等內容無法一一聯(lián)系確認版權者。如涉及作品內容、版權和其它問題，請及時通過電子郵件或電話通知我們，以便迅速采取適當措施，避免給雙方造成不必要的經濟損失。聯(lián)系電話：0756-8632035；郵箱：zhcce@chnchip.com.cn。

        珠海市中芯集成電路有限公司是一家專業(yè)從事集成電路后序加工的高科技電子公司，可以為客戶提供晶圓測試（wafer testing）、晶圓切割Dicing Saw（半切及貼膜全切） 、晶圓研磨減薄（wafer back grinding）、成品測試及tcp/cof/cob封裝等全方位的服務。公司是中國半導體行業(yè)協(xié)會會員，珠海市軟件行業(yè)協(xié)會副會長單位，獲授國家高新技術企業(yè)，廣東省“守合同重信用”企業(yè)，通過ISO 9001：2008和ISO 9001：2015體系認證。中芯的行為準則是“以客戶為中心，以質量求生存，以服務求發(fā)展！”，希望通過我們的專業(yè)程度和不懈的努力，為客戶提供低成本、高品質的產品。